Bücher aus dem Jahr 2014

In der Fertigung muss die Eignung eines Prüfprozesses nachgewiesen werden. Diese Forderung ist in mehreren internationalen Normen, Verbandsrichtlinien und Firmenrichtlinien der Automobilindustrie zwingend vorgeschrieben. Damit soll vor allem das Risiko einer Produkthaftung abschätzbar und beherrschbar werden. Während sich die Prüfmittelfähigkeit in der Automobilindustrie in den letzten Jahren durchgesetzt hat, kommt heute die Bestimmung der Erweiterten Messunsicherheit als Alternative für den Eignungsnachweis bzw. die Verwendbarkeit der Messprozesse hinzu. Das Buch gibt eine umfangreiche Orientierung und Hilfestellung zu diesen Forderungen für die industrielle Produktion. Die dabei beschriebenen Verfahren sind in mehreren, im Buch enthaltenen Firmenrichtlinien (Bosch, DaimlerChrysler, General Motors Powertrain) angewandt. Die damit gewonnenen Erfahrungen bestätigen den praktischen Nutzen. (Quelle: Deutsche Nationalbibliothek)

Bei der Neubeschaffung bzw. Neueinrichtung von Messsystemen und -prozessen ist der Eignungsnachweis Voraussetzung für deren Einsatz. Anhand von Fähigkeitsnachweisen wird eine Beurteilung durchgeführt. Die Nachweise basieren auf statistischen Methoden, sind jedoch nicht genormt. Dadurch entstanden in der Industrie unterschiedliche Vorgehens- und Betrachtungsweisen. In einem Arbeitskreis mit der deutschen Automobilindustrie wurde ein Leitfaden für eine einheitliche Vorgehensweise erstellt, auf dem dieser Pocket-Guide basiert. Die einzelnen Schritte der Abnahme und Beurteilung von Messsystemen werden erläutert und zur besseren Verständlichkeit durch Fallbeispiele untermauert. In der aktuellen Auflage dieses Buches wird darüber hinaus vermehrt Wert auf die Berücksichtigung von „Stolperfallen“ der Messsystemanalyse gelegt und Tipps zu Sonderfällen werden aufgezeigt. In der kompakten Form des Bandes hat man alle wichtigen Informationen schnell und vor Ort parat. Sämtliche Bildschirmausdrucke stammen von dem Q-DAS® Produkt solara.MP®. Damit können Anwender von solara.MP® und destra® jeden Schritt mit Testbeispielen problemlos nachvollziehen. In der 4. aktualisierten, korrigierten und erweiterten Auflage werden die Methoden mit den Vorgehensweisen der AIAG Core Tool MSA 4th Edition abgeglichen und gegenübergestellt. Darüber hinaus werden Verbindungen der MSA-Methoden zu dem VDA Band 5 „Prüfprozesseignung“ (2. Aufl.) aufgezeigt. Beide Publikationen gelten als Referenzhandbücher zur ISO/TS 16949. (Quelle: Deutsche Nationalbibliothek)

Die VDA 5 „Prüfprozesseignung“ und die internationale Norm ISO 22514-7 „Capability of Measurement Processes“ verbindet das Konzept der Messunsicherheitsbetrachtung gemäß dem „Guide to the Expression of Uncertainty“ (GUM) mit der Messsystemanalyse (Measurement System Analysis MSA). Der vorliegende Pocket Guide zeigt, dass es nur ein kleiner Schritt von den bekannten Verfahren der Messsystemanalyse hin zur Prüfprozesseignung nach VDA 5 bzw. ISO 22514-7 ist. Viele Ermittlungsverfahren der Messsystemanalyse können 1:1 für die Prüfprozesseignung übernommen werden. Auch wurde das Konzept übertragen, anhand von Fähigkeitskenngrößen klare Entscheidungsregeln für die Annahme oder Rückweisung eines Prüfprozesses festzulegen. Damit sind die Verfahren der Prüfprozesseignung eine auf die Belange des Praktikers im Fertigungsbetrieb zugeschnittene „Übersetzung“ des GUM. (Quelle: Deutsche Nationalbibliothek)

Die Ermittlung und Angabe der Messunsicherheit von Koordinatenmessungen ist die Grundvoraussetzung für vergleichbare Messergebnisse, die benötigt werden für die Beurteilung der Eignung von Prüfprozessen, die Bestätigung der Konformität von Messergebnissen mit Spezifikationen und die Sicherstellung der weltweiten Austauschbarkeit von Produkten. Das Buch vermittelt die Grundlagen zur Ermittlung der Messunsicherheit nach dem international anerkannten Leitfaden zur Angabe der Unsicherheit beim Messen (GUM) sowie die Umsetzung der dort beschriebenen Methoden bei Koordinatenmessungen. Schwerpunkt ist die Berechnung der Messunsicherheit für eine breite Auswahl von häufigen Prüfmerkmalen, die durch entsprechende Berechnungstabellen unterstützt wird. (Quelle: Deutsche Nationalbibliothek)

Diese Arbeit beschäftigt sich mit der Extraktion von 3D-Oberflächen aus industriellen Computertomographiedaten. In diesem Zusammenhang wird ein Verfahren entwickelt, welches es ermöglicht, regionsabhängig und an gegebene Mess- oder Prüfaufgaben angepasst, Grenzflächen zu ermitteln. (Quelle: Fraunhofer Verlag)

Die wirklichen Oberflächen von prismatischen Werkstücken werden mit einer begrenzten Anzahl von Punkten erfasst. Berechnet man daraus die zugeordneten vollständigen und abgeleiteten Geometrieelemente, so lassen sich auf dieser Basis Maß-, Form- und Lageabweichungen ermitteln. Einige der Berechnungsmethoden sind schon sehr lange bekannt und haben sich bewährt. Ein vollständiges allgemeines Algorithmenkonstrukt liegt aber bisher nicht vor. Dies wird in der vorliegenden Arbeit vorgestellt und in Richtung einer automatischen Trennung für gemeinsam erfasste Punkte weiterentwickelt. (Quelle: Deutsche Nationalbibliothek)

Die Beiträge in diesem Werk dokumentieren für die Themengebiete Photogrammetrie, Laserscanning und optische 3D-Messtechnik die neuesten Forschungsergebnisse und Anwendungsbeispiele aus Wissenschaft und Praxis, die in dieser Form an anderer Stelle kaum zu finden sind. (Quelle: Wichmann Fachmedien)

Der Tagungsband enthält alle Beiträge des XXVIII. Messtechnischen Symposiums des Arbeitskreises der Hochschullehrer für Messtechnik e.V. (AHMT) vom 18.-20. September 2014 in Saarbrücken. Die Beiträge umfassen ein breites Spektrum aus allen Bereichen der Messtechnik und adressieren insbesondere die Themen modellgestützte Messdatenanalyse, mikrooptische Messtechnik, Impedanzmessung und Gasmesstechnik. Aber nicht nur die Methoden decken ein weites Feld ab, auch die Anwendungsbereiche sind extrem vielfältig von der elektromagnetischen Sicherheit in Elektrofahrzeugen über Bolometerkameras für die Fusionsforschung oder die Permittivitätsmessung zur Quantifizierung von Hirnödemen bis zur High-Speed Mikroskopie für Zellkulturen. (Quelle: Deutsche Nationalbibliothek)