Bücher aus dem Jahr 2009
Die folgende Liste führt diejenigen Bücher auf, die im Jahr 2009 zum Themenbereich Koordinatenmesstechnik oder Längenmesstechnik neu erschienen sind. Die Symbole zeigen an, ob zum jeweiligen Buch das Inhaltsverzeichnis abrufbar ist oder sogar der gesamte Inhalt (beides als Link zur Deutschen Nationalbibliothek).
F. Blumrich
ISBN: 3-83810958-9 / 978-383810958-9
Optische korrelationsbasierte Messtechnik mittels zufälliger Punktemuster, Dissertation
ISBN: 3-83810958-9 / 978-383810958-9
T. Böttner
ISBN: 3-8322-8037-5 / 978-3-8322-8037-6
Messunsicherheitsbetrachtungen an einem virtuellen Streifenprojektionssystem, Dissertation
ISBN: 3-8322-8037-5 / 978-3-8322-8037-6
In dieser Arbeit erfolgt eine mathematische Formulierung der physikalischen Zusammenhänge eines Streifenprojektionssystems, ausgehend von der Beschreibung der einzelnen optischen Komponenten, mit Hilfe der Projektiven Geometrie. Die mathematische Formulierung liefert die Basis für das virtuelle Streifenprojektionssystem, hierbei handelt es sich um ein numerisches Simulationsprogramm. Mit Hilfe des virtuellen Streifenprojektionssystems wird der Einfluss verschiedener Parameter auf das Messergebnis gezeigt; der Schwerpunkt liegt auf der Untersuchung verschiedeber Kalibrierverfahren. Zwei der Kalibrierverfahren sind rein mathematisch motivierte Black-Box Verfahren, das dritte Verfahren basiert hingegen auf einem geometrisch/physikalischen Modell des Streifenprojektionssystems. Anhand eines idealen Streifenprojektionssystems sowie bei Vorhandensein von optischen Verzeichnungen bei Kamera und Projektor erfolgt die grafische Darstellung der Messabweichung für die verschiedenen Kalibrierverfahren. In Kombination mit Monte-Carlo Methoden lassen sich mit dem virtuellen Streifenprojektionssystem statistische Informationen über die Mesgrößen ermitteln. Durch Modellierung von Parametern als Zufallsvariablen liefert das Simulationsprogramm Aussagen über die hieraus resultierende Messunsicherheit. (Quelle: Shaker Verlag)
M. de Campos Porath
ISBN: 978-3-940565-31-0
Metrologische Qualifizierung von Koordinatenmessgeräten für mikromechanische Bauteile, Dissertation
ISBN: 978-3-940565-31-0
Genauigkeit der digitalen Photogrammetrie: Konzepte zur Ermittlung von Genauigkeiten der gegenwärtigen digitalen Photogrammetrie" />
V. Dencheva
ISBN: 3-8381-0346-7 / 978-3-8381-0346-4
Genauigkeit der digitalen Photogrammetrie: Konzepte zur Ermittlung von Genauigkeiten der gegenwärtigen digitalen Photogrammetrie, Dissertation
ISBN: 3-8381-0346-7 / 978-3-8381-0346-4
E. Dietrich, S. Conrad
ISBN: 3-446-41866-0 / 978-3-446-41866-0
Anwendung statistischer Qualitätsmethoden, 3. verbesserte Auflage
ISBN: 3-446-41866-0 / 978-3-446-41866-0
Das Buch beschreibt die Anwendung und Umsetzung statistischer Methoden im Qualitätsmanagement von Produktionsbetrieben - von der klassischen Annahmestichprobenprüfung über aktuelle Standards der Messsystemfähigkeit bis zu den neuen Normen zur Prozessbeurteilung. Dem Leser werden - die notwendigen statistischen Qualitätsmethoden vermittelt, - statistische Methoden zur Gewinnung von Qualitätskennzahlen und Qualitätsregelgrößen erläutert, - der Einsatz der Methoden zur Optimierung der operativen betrieblichen Prozesse aufgezeigt. Heute werden rechnergestützte Methoden bevorzugt und Schwerpunkte auf grafische Analysen von Messwerten und Kenngrößen gelegt. Zur Visualisierung werden Darstellungen der Software qs-STAT der Q-DAS GmbH genutzt, die mit der beiliegenden Demo-Version der Software einfach nachvollzogen werden können. (Quelle: Deutsche Nationalbibliothek)
P.-B. Eipper
ISBN: 3-8381-1636-4 / 978-3-8381-1636-5
Untersuchung unbehandelter und behandelter Ölfarbenoberflächen durch das 3D-Streifenprojektionsverfahren auf Mikrospiegelbasis, Dissertation
ISBN: 3-8381-1636-4 / 978-3-8381-1636-5
A. Gallasch
ISBN: - / -
Autorenanalyse Längen- und Koordinatenmesstechnik, 2. Ausgabe
ISBN: - / -
G. Goch
ISBN: 3-8322-8491-5 / 978-3-8322-8491-6
XXIII. Messtechnisches Symposium des Arbeitskreises der Hochschullehrer für Messtechnik e.V.
ISBN: 3-8322-8491-5 / 978-3-8322-8491-6
M. Gruhlke
ISBN: - / -
Untersuchungen für den industriellen Einsatz der Nanometerkoordinatenmesstechnik, Dissertation
ISBN: - / -
A. Günther
ISBN: 3-8107-0046-0 / 978-3-8107-0046-9
Mess- und Auswertungsmethoden der taktilen Kegelradmessung, Dissertation
ISBN: 3-8107-0046-0 / 978-3-8107-0046-9
J. Hoffmann
ISBN: 3-8322-8228-9 / 978-3-8322-8228-8
Elektrische Werkstückantastung für Nanometer aufgelöste Oberflächen- und Koordinatenmesstechnik, Dissertation
ISBN: 3-8322-8228-9 / 978-3-8322-8228-8
D. Imkamp, C. Discher, R. Disser, J. Wanner, R. Roithmeier
ISBN: 3-9811422-7-6 / 978-3-9811422-7-3
Genauigkeits- und Leistungsdaten von Koordinatenmessgeräten: MPE-Kennwerte, Fähigkeit und Eignung
ISBN: 3-9811422-7-6 / 978-3-9811422-7-3
W. Jorden
ISBN: 3-446-41778-8 / 978-3-446-41778-6
Form- und Lagetoleranzen, 6. neu bearbeitete Auflage
ISBN: 3-446-41778-8 / 978-3-446-41778-6
"Wenn wir die Teile selbst herstellen, passen sie; lassen wir sie nach denselben Zeichnungen auswärts fertigen, passen sie nicht." Kennen Sie das? Eine technische Zeichnung muss ein Werkstück vollständig und eindeutig beschreiben. Die meisten Zeichnungen in der Praxis tun das jedoch wegen fehlender oder unzureichender Form- und Lagetolerierung nicht. Dieses Lehr- und Handbuch erläutert die Form-, Lage- und Maßtolerierung in systematischer und anschaulicher Weise. Wesentlich sind - die Bildung von Bezugssystemen, auf denen die Tolerierung aufbaut, - die Verknüpfung von Toleranzen in Maßketten und durch die Maximum-Material-Bedingung sowie - der Zusammenhang mit dem Qualitätswesen. Das Buch unterstützt den Umgang mit Toleranzen durch 193 Leitregeln sowie viele Praxisbeispiele. Es kann als Lehrbuch, aber auch als Nachschlagewerk verwendet werden und ist hervorragend zum Selbststudium geeignet. (Quelle: Deutsche Nationalbibliothek)
M. Lotz
ISBN: 3-938843-46-2 / 978-3-938843-46-8
Konstruktion von Messspiegeln hochgenauer Mess- und Positioniermaschinen: Beitrag zur Entwicklung einer Nanopositionier- und Nanomessmaschine, Dissertation
ISBN: 3-938843-46-2 / 978-3-938843-46-8
T. Luhmann, C. Müller
ISBN: 3-87907-478-X / 978-3-87907-478-5
Photogrammetrie - Laserscanning - Optische 3DMesstechnik: Beiträge der Oldenburger 3D-Tage 2009
ISBN: 3-87907-478-X / 978-3-87907-478-5
Dieses Werk beinhaltet die überarbeiteten Tagungsbeiträge der 8. Oldenburger 3D-Tage „Optische 3D-Messtechnik – Photogrammetrie – Laserscanning“, die unter der Leitung von Prof. Luhmann vom 28.01. bis 29.01.2009 an der Fachhochschule Oldenburg stattfinden. Die Beiträge in diesem Werk dokumentieren die neuesten Forschungsergebnisse und Anwendungsbeispiele aus der Praxis, die sonst an keiner anderen Stelle zu finden sind. Schwerpunktmäßig werden folgende Themen behandelt: Hybride Sensorsysteme, Navigation von Objekten und Sensoren, Dynamische Prozesse, Genauigkeitsprüfungen von Laserscannern, Neue Richtlinie VDI/VDE 2634 Blatt 3, 3D-Kameras, Nanomesstechnik und 3D-Mikroskopie. (Quelle: Deutsche Nationalbibliothek)
A. Phataralaoha
ISBN: 3-8322-8444-3 / 978-3-8322-8444-2
Entwicklung piezoresistiver taktiler Sensoren für die Charakterisierung von Mikrokomponenten, Dissertation
ISBN: 3-8322-8444-3 / 978-3-8322-8444-2
Kernpunkte dieser Arbeit sind die Entwicklung, Herstellung und Charakterisierung dreidimensionaler taktiler Sensoren, welche auf Siliziumbossmembranen und piezorestiven Signalwandlern basieren. Unterschiedliche Membrankonstruktionen, wie Voll- und Kreuzmembran mit verschiedenen Balkenbreiten und die Fünf-Boss-Struktur, wurden als Federkörper der Tasterprototypen verwendet. Als Grundlage für Konstruktionsanalysen der Bossmembran wurden mathematische Modelle sowohl mittels analytischer als auch numerischer Verfahren eingesetzt. Die Modelle dienen zum einen für die Betrachtung der Einflüsse der geometrischen Kenngrößen auf die mechanischen Eigenschaften und zum anderen für Berechnungen von mechnischen Spannungen und Membranauslenkungen und den daraus resultierenden Sensorempfindlichkeiten. (Quelle: Shaker Verlag)
M. Rahlves, J. Seewig
ISBN: 3-41017133-9 / 978-3-41017133-1
Optisches Messen technischer Oberflächen
ISBN: 3-41017133-9 / 978-3-41017133-1
M. Schlipf
ISBN: 3-8322-8058-8 / 978-3-8322-8058-1
Statistische Prozessregelung von Fertigungs- und Messprozess zur Erreichung einer variabilitätsarmen Produktion mikromechanischer Bauteile, Dissertation
ISBN: 3-8322-8058-8 / 978-3-8322-8058-1
Die fertigungsnahe Qualitätssicherung und Prozessregelung von hybriden Mikrofertigungsprozessen steht insbesondere vor zwei Herausforderungen. Erstens sind die Qualitätsergebnisse von Mikrofertigungsprozessen durch eine hohe Variabilität aufgrund von Größeneffekten sowie veränderten Umwelt- und Prozessbedingungen im Mikrobereich charakterisiert. Zweitens liegt bei den hohen Genauigkeitsanforderungen im (Sub-)Mikrometerbereich die Streuung des Messprozesses in der Größenordnung der Streuung des Mikrofertigungsprozesses und erschwert die Entscheidung über Annahme oder Ablehnung des Messobjektes bezogen auf dessen Funktionstüchtigkeit. Die vorliegende Arbeit setzte sich daher zum Ziel, zum Einen eine Methodik zur kontinuierlichen Reduzierung der Variabilität von Mikrofertigungsprozessen und zum Anderen ein Werkzeug zur kontinuierlichen Visualisierung, Überwachung und Trennung der Streuung von Fertigungs- und Messprozess zu entwickeln. (Quelle: Shaker Verlag)
K. Schmidt
ISBN: 3-8322-8356-0 / 978-3-8322-8356-8
Einheitliches Regelwerk zur Tolerierung und Prüfung von Maß-, Form- und Lageabweichungen, Dissertation
ISBN: 3-8322-8356-0 / 978-3-8322-8356-8
Die Prüfung geometrischer Bauteileigenschaften erfolgt nach zwei prinzipiellen Methoden:
-> Vergleich des zugeordneten Elementes mit Nennwert und Toleranz; Anwendung: fertigungstechnisch einzeln ausgeprägte regelgeometrieelemente
-> Einpassung des erfassten Elementes gegen CAD-Datensatz; Anwendung: Freiformflächen und die Bauteilfunktion gemeinsam bestimmende Regelgeometrieelemente
Da beide Methoden gleichzeitig vorkommen und unterschiedliche Prüfergebnisse resultieren können, wurde eine Vereinheitlichung beider Methoden mittels der Überführung von Maß-, Form- und Lagetoleranzen zur Profilformtoleranzen einer Linie bzw. Fläche (Toleranzüberführung) erarbeitet. Zentrale Stellung nehmen Profilformtoleranzen ein, da diese für beliebig offene und geschlossene Konturen anwendbar sind. Mittels Toleranzüberführung werden Maß-, Form- und Lagetoleranzen unter Berücksichtigung des entwickelten Regelwerks automatisch in (Profilform)Toleranzschablonen umgewandelt. Eine Überführung von Maß-, Form- und Lagetoleranzen zu Profilformtoleranzen resultiert in einer Einpassung des erfassten Elementes in die überführten Toleranzzonen. Die im Rahmen der Dissertation entwickelten Methoden sind in einem Prototyp umgesetzt. Die für Regel- und Freiformflächen sowie einer Kombination derer im 2D- oder 3D-Bereich anwendbare Toleranzüberführung ermöglicht die Prüfung komplexer ISO-Zeichnungsangaben gegen Datensatz nach einheitlichen Kriterien auch unter Beachtung der virtuellen Lehrung. (Quelle: Shaker Verlag)
-> Vergleich des zugeordneten Elementes mit Nennwert und Toleranz; Anwendung: fertigungstechnisch einzeln ausgeprägte regelgeometrieelemente
-> Einpassung des erfassten Elementes gegen CAD-Datensatz; Anwendung: Freiformflächen und die Bauteilfunktion gemeinsam bestimmende Regelgeometrieelemente
Da beide Methoden gleichzeitig vorkommen und unterschiedliche Prüfergebnisse resultieren können, wurde eine Vereinheitlichung beider Methoden mittels der Überführung von Maß-, Form- und Lagetoleranzen zur Profilformtoleranzen einer Linie bzw. Fläche (Toleranzüberführung) erarbeitet. Zentrale Stellung nehmen Profilformtoleranzen ein, da diese für beliebig offene und geschlossene Konturen anwendbar sind. Mittels Toleranzüberführung werden Maß-, Form- und Lagetoleranzen unter Berücksichtigung des entwickelten Regelwerks automatisch in (Profilform)Toleranzschablonen umgewandelt. Eine Überführung von Maß-, Form- und Lagetoleranzen zu Profilformtoleranzen resultiert in einer Einpassung des erfassten Elementes in die überführten Toleranzzonen. Die im Rahmen der Dissertation entwickelten Methoden sind in einem Prototyp umgesetzt. Die für Regel- und Freiformflächen sowie einer Kombination derer im 2D- oder 3D-Bereich anwendbare Toleranzüberführung ermöglicht die Prüfung komplexer ISO-Zeichnungsangaben gegen Datensatz nach einheitlichen Kriterien auch unter Beachtung der virtuellen Lehrung. (Quelle: Shaker Verlag)
C. Wachten
ISBN: 3-89959-865-2 / 978-3-89959-865-0
Entwicklung eines Lasertrackersystems mit Galvanometerscanner zur 3D-Positionsbestimmung, Dissertation
ISBN: 3-89959-865-2 / 978-3-89959-865-0
N. Werth
ISBN: 3-8322-8412-5 / 978-3-8322-8412-1
Einsatz von Mikrospiegelarrays in der elektronischen Speckle-Muster-Interferometrie, Dissertation
ISBN: 3-8322-8412-5 / 978-3-8322-8412-1